Oberflächenfehlerdetektion in der Produktion am Beispiel von stranggepressten Profilen
Max Neuhauser, Institut für Virtuelle Produktion, ETH Zürich
High-Speed 3D Inspektion mit Lichtfeldtechnologie und Deep Learning
Dr. Moritz Kirschmann, CSEM
Neuronale Netze und maschinelles Lernen in der industriellen Fertigung
Phil Gralla, Stemmer Imaging
Prozessbegleitende 3D-inline Prüfung und Hochgeschwindigkeitsscannen in der Produktion
Reto Völlmin und Christoph Golombek, Keyence
Programm (389 KB)